远方热阻结构测试技术获得美国发明专利授权_远方光电

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远方热阻结构测试技术获得美国发明专利授权

2018-11-22748
众所周知,LED对热特别敏感,无论对于LED封装、模块,还是LED灯和灯具(以下统称为LED器件),良好的热管理都是提升其品质的重要方面。不良的散热将直接导致LED器件的PN结温过高,进而导致光输出下降、颜色漂移、寿命降低等问题。一般情况下,LED器件的功率越大,对热管理的要求越高。

热阻是衡量LED器件散热水平的重要参数,传统的热阻测试仅能获得器件整体的热阻值,无法反映器件内部的热阻结构,而在内部细节缺失的情况下去提升LED散热能力是非常有限的。为了实现良好的热管理,有必要对器件内部的热阻结构进行深入细致的分析,这就好比借给了研发工程师一双看清LED热流的眼睛。

远方自主研究和开发的热阻分析方法,通过建立被测对象的热传导数学模型,可准确获取被测对象接触界面的热阻以及各热传导部件内部的热阻分布,实现被测对象热阻结构的准确量化分析。

日前,远方公司收到了美国专利商标局颁发的《热阻分析方法》发明专利证书(证书号US 10,094,792B2),在经过5年的审查后,获得美国专利授权,此前该技术已获得中国发明专利授权。

基于发明专利,远方公司已经开发了TRA200/300系列热阻分析仪,通过对LED器件的热阻结构分析,为其散热设计提供重要依据和评判手段,具有测试精度高、速度快的优势。TRA-200适用于中小功率LED器件,TRA-300适用于COB封装的大功率LED以及LED模组等。

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